Beschrijving

Wij bieden alle YellowScanprodukten en diensten aan !! Meer info ? Contacteer ons vrijblijvend !info@meldrone.be

YellowScan Mapper PLUS

Beschrijving

Hoogte: 100 m

Precisie: 2,5 cm

Nauwkeurigheid: 3 cm

Gewicht: 1,1 kg (batterij inbegrepen)

De nieuwe YellowScan Mapper+ is ons op Livox-gebaseerde UAV LiDAR-systeem.

Het YellowScan Mapper+ UAV LiDAR-systeem is uitgerust met een hoogwaardige Livox Avia-laserscanner, dat door DJI ondersteund wordt.

Wij raden een constante  vliegsnelheid van 10 m/s aan om te profiteren van de puntdichtheid van de Mapper+ en tegelijkertijd een goede productiviteit te hebben.  Bijvoorbeeld, vliegend op 70 m AGL, 10 m/s, zal u in staat zijn om 10 ha in kaart te brengen in 3 minuten.

YellowScan Mapper+ is zeker het juiste LiDAR-instrument om mee te beginnen. Uw gegevensverzameling zal snel, nauwkeurig en kosteneffectief zijn.

Sluit uw Mapper+ LiDAR-systeem aan op uw DJI Skyport.

De YellowScan Mapper+ kan worden gebruikt met de DJI Skyport en is compatibel met de DJI M300 en kan eveneens aangesloten worden op andere: multirotor, fixed-wing en helikopter drones.

Als u al een M300 of M600 heeft, hebben we de speciale montagebeugel om de Mapper+ LiDAR aan je UAV te bevestigen.

U heeft 3 verschillende manieren om uw YellowScan Mapper van stroom te voorzien.

U kan gebruik maken van:

• Skyport (op DJI M300 UAV)
• Externe stroombron met de speciale poort (UAV’s stroom)
• YellowScan Mapper LiDAR systeem’s eigen voeding

Technologieën binnenin

Applanix APX-15 IMU

Livox Horizon Laser Scanner

UAV-integratie

• Multirotor-drones
• Helikopter drones
• Fix-wing UAV

Belangrijkste onderscheidende factoren

Beste kost-prestatie ratio

Hoge densiteit puntenwolk en geavanceerde nauwkeurigheid/precisie

Compact

Zeer licht

Turn-key en eenvoudig te bedienen
Eenvoudig te monteren op elke UAV, niet enkel op een DJI UAV
Self-Powered

Belangrijkste voordelen

Robuust en betrouwbaar

Turn-key en eenvoudig te bedienen

Volledig autonoom, kan snel op elke drone worden gemonteerd

Sub-decimetrische nauwkeurigheid voor gegevens van het hoogste dichtheidsniveau in veeleisende onderzoekstoepassingen